dc.contributor.author | OZKARTAL, Abdullah | |
dc.date.accessioned | 2024-03-29T06:56:18Z | |
dc.date.available | 2024-03-29T06:56:18Z | |
dc.date.issued | 2021 | |
dc.identifier.issn | 2147-3129 | |
dc.identifier.uri | http://dspace.beu.edu.tr:8080/xmlui/handle/123456789/14669 | |
dc.description.abstract | Bu çalışmada, n-ZnO ince filmi hem p-Si yarıiletkeni ve hem de mikroskop camı üzerinde termal buharlaştırma
yöntemi ile üretildi. n-ZnO ince filmler, UV-Vis spektroskopisi, X-ışını kırınımı (XRD) ve enerji dağılımlı X-ışını
spektroskopisi (EDX) ile incelendi. n-ZnO/p-Si diyotların elektriksel özellikleri karanlıkta ve oda sıcaklığında,
akım-voltaj (I-V) ve kapasitans-voltaj (C-V) ölçümleri ile belirlendi. Üretilen numunelerin idealite faktörü (n),
engel yüksekliği (Фb) ve seri direnci (Rs), I-V ve C-V ölçümlerinden ve Cheung fonksiyonlarından hesaplandı.
Ayrıca n-ZnO/p-Si diyotların fotodiyot özellikleri 100 mW/cm2 ve AM 1.5 aydınlatma altında incelendi. | tr_TR |
dc.language.iso | Turkish | tr_TR |
dc.publisher | Bitlis Eren Üniversitesi | tr_TR |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | tr_TR |
dc.subject | Fotodiyot, n-ZnO/p-Si heteroeklem kontak, ZnO ince film, termal buharlaştırma. | tr_TR |
dc.title | Termal buharlaştırma yöntemi ile üretilen n-ZnO/p-Si heteroeklem kontakların elektriksel ve optiksel karakterizasyonu | tr_TR |
dc.type | Article | tr_TR |
dc.identifier.issue | 3 | tr_TR |
dc.relation.journal | Bitlis Eren Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi | tr_TR |
dc.identifier.volume | 10 | tr_TR |