Show simple item record

dc.contributor.authorOZKARTAL, Abdullah
dc.date.accessioned2024-03-29T06:56:18Z
dc.date.available2024-03-29T06:56:18Z
dc.date.issued2021
dc.identifier.issn2147-3129
dc.identifier.urihttp://dspace.beu.edu.tr:8080/xmlui/handle/123456789/14669
dc.description.abstractBu çalışmada, n-ZnO ince filmi hem p-Si yarıiletkeni ve hem de mikroskop camı üzerinde termal buharlaştırma yöntemi ile üretildi. n-ZnO ince filmler, UV-Vis spektroskopisi, X-ışını kırınımı (XRD) ve enerji dağılımlı X-ışını spektroskopisi (EDX) ile incelendi. n-ZnO/p-Si diyotların elektriksel özellikleri karanlıkta ve oda sıcaklığında, akım-voltaj (I-V) ve kapasitans-voltaj (C-V) ölçümleri ile belirlendi. Üretilen numunelerin idealite faktörü (n), engel yüksekliği (Фb) ve seri direnci (Rs), I-V ve C-V ölçümlerinden ve Cheung fonksiyonlarından hesaplandı. Ayrıca n-ZnO/p-Si diyotların fotodiyot özellikleri 100 mW/cm2 ve AM 1.5 aydınlatma altında incelendi.tr_TR
dc.language.isoTurkishtr_TR
dc.publisherBitlis Eren Üniversitesitr_TR
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesstr_TR
dc.subjectFotodiyot, n-ZnO/p-Si heteroeklem kontak, ZnO ince film, termal buharlaştırma.tr_TR
dc.titleTermal buharlaştırma yöntemi ile üretilen n-ZnO/p-Si heteroeklem kontakların elektriksel ve optiksel karakterizasyonutr_TR
dc.typeArticletr_TR
dc.identifier.issue3tr_TR
dc.relation.journalBitlis Eren Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisitr_TR
dc.identifier.volume10tr_TR


Files in this item

Thumbnail

This item appears in the following Collection(s)

Show simple item record